半導(dǎo)體設(shè)備真空系統(tǒng)出現(xiàn)故障一般分為兩類:一是真空泵機組及測量系統(tǒng)的故障,另一個是真空系統(tǒng)的泄漏。對于第一類故障,檢測真空泵的極限真空度或更換好的真空計就可以確認(rèn)。對于第二類故障則需要檢漏。
在對半導(dǎo)體設(shè)備檢漏時常使用兩種方法:靜壓檢漏法和He質(zhì)譜檢漏法。靜壓檢漏法就是用閥門將真空室與真空泵組隔開,測量其內(nèi)部壓強的變化。質(zhì)譜檢漏法要復(fù)雜一些。
He質(zhì)譜檢漏儀一般需要拿到現(xiàn)場去,檢漏儀內(nèi)有分子泵,因此搬運時要輕拿輕放。常常選擇檢漏儀高靈敏度方式來檢漏,這有利于保護(hù)分子泵。檢漏儀的抽氣能力有限,因此常常需要設(shè)備自己抽好真空。真空抽到0.5~10Pa就行。等到漏率顯示穩(wěn)定或由穩(wěn)定轉(zhuǎn)成減少后再開始檢漏。在檢漏過程中如果需要對門閥、粗抽閥、放氣閥等進(jìn)行操作,則必需先讓檢漏儀停止檢漏并選擇檢漏口不放氣,避免真空室突然進(jìn)入大量氣體而損壞檢漏儀。
真空抽到后應(yīng)該關(guān)上門閥和粗抽閥,以免分流導(dǎo)致真空漏率測量值小于實際值。最好停掉設(shè)備上的分子泵和機械泵,從而避免它們的干擾;有冷泵的設(shè)備要想檢漏徹底應(yīng)該停掉冷泵。用真空法檢測雙密封結(jié)構(gòu)產(chǎn)品漏率時,常有漏率“緩慢升高”的現(xiàn)象發(fā)生,因此在檢漏過程中要注意這一點,另外,要求He袋不漏氣,一般要求噴出的He流量少,這樣有利于確認(rèn)漏點位置,但是也有特殊情況,需要在某些He不易到達(dá)的地方噴出較多He,以避免漏檢。檢漏時加裝的波紋管不能檢漏,發(fā)現(xiàn)漏點后要進(jìn)行第二次確認(rèn),漏點維修后要再進(jìn)行檢漏確認(rèn)。
半導(dǎo)體設(shè)備真空部分有許多部件,如果一個部件漏率較大,很容易導(dǎo)致高真空抽不上去。半導(dǎo)體設(shè)備的真空疑難故障大多是微漏導(dǎo)致高真空抽不上。真空檢漏的難點是要重視操作的細(xì)節(jié)部分,要有耐心。此外,選擇國產(chǎn)高真空計時要留有余地,否則將無法顯示期望的高真空度。
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